STM (Scanning Tunneling Microscope)

掃描穿遂式顯微鏡，簡稱STM。在1981年，由IBM 實驗室的G. Binning and W. Rohrer研發而成，並於1986年獲得諾貝爾獎（Nobel Prize）。目前，在表面科學(Surface Science)研究上，已經廣泛的應用。

STM的原理：

樣品和探針(probe)之間的距離很小（約一個原子直徑），這距離對樣品中的電子如同一個位壘(barrier)，當在探針和樣品兩者之間加一小電壓，使得電子穿遂其中產生穿遂電流(tunneling current)。穿遂電流對於樣品和探針之間的距離相當敏感，我們可以利用觀測穿遂電流的強弱得知探針和樣品之間距離的遠近。當穿遂電流維持一定值沿樣品表面掃描，表面的形貌會依探針的掃描路徑而呈現出來（下圖：紅色線為探針掃描樣品表面的行走的路徑），因而能夠以原子尺寸記錄樣品表面形貌。